




[Leica] 이온 빔 밀링 시스템 - EM TIC 3X
- Leica Triple Ion-Beam Milling System
- 정교하게 시료의 단면 처리 가능
- 저온(~-160℃) 환경에서도 이온 밀링이 가능
- Leica의 독자적인 삼중 이온 빔 밀링 시스템 탑재
- SEM, AFM 조사를 위한 단면 및 평면 표면을 생성 가능
- Milling Rate : ~>300um/h (10kV, Si wafer)
- Temperature Range : 30 ~ -160℃
- Flat Milling, Cross Section, Cooling Section, Multiple Section
라이카의 트리플 이온 빔 밀링 시스템입니다.
신코는 Leica Microsystem의 대한민국 공식 Distributor로써, 전 라인업 제품의 빠른 공급 및 AS / 검교정 서비스를 진행하고 있습니다.
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