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[신코] [Leica] 시료 단면 처리 솔루션: EM TIC 3X
제품(기술)분류: 기자재 > 분석장비
전화: 02-2143-8200
메일: sc01best(at).scinco.com
팩스: 02-2143-8354

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상세정보 사용후기 회사정보 |  등록제품 |  시약벤더 |  진행중 이벤트
  카탈로그 NO : EM TIC 3X
  제품 생산일 :
  원산지 : Germany
  생산기업 : Leica
  특징 및 규격  

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[Leica] 이온 빔 밀링 시스템 - EM TIC 3X

  • Leica Triple Ion-Beam Milling System
  • 정교하게 시료의 단면 처리 가능
  • 저온(~-160℃) 환경에서도 이온 밀링이 가능
  • Leica의 독자적인 삼중 이온 빔 밀링 시스템 탑재
  • SEM, AFM 조사를 위한 단면 및 평면 표면을 생성 가능
  • Milling Rate : ~>300um/h (10kV, Si wafer)
  • Temperature Range : 30 ~ -160
  • Flat Milling, Cross Section, Cooling Section, Multiple Section

라이카의 트리플 이온 빔 밀링 시스템입니다.

신코는 Leica Microsystem의 대한민국 공식 Distributor로써, 전 라인업 제품의 빠른 공급 및 AS / 검교정 서비스를 진행하고 있습니다.

자세한 정보확인, 상담 및 주문은 Scincomall.com에서 가능합니다.

현재 다양한 프로모션 행사를 진행하고 있으니, 홈페이지에 방문해서 확인해보세요.

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